Експериментально-статистичні моделі визначення впливу параметрів електронного променя на властивості поверхневих шарів оптичних елементів точного приладобудування
DOI:
https://doi.org/10.15276/opu.1.48.2016.12Ключові слова:
оптичний елемент, зовнішні термічні впливи, електронний проміньАнотація
Для запобігання руйнуванням оптичних елементів практичне значення мають електронно-променеві методи фінішної обробки їх робочих поверхонь на стадії виготовлення, які дозволяють покращувати властивості поверхневих шарів елементів і тим самим робити їх стійкішими до зовнішнього теплового і механічного впливу. Мета: Метою роботи є визначення оптимальних діапазонів зміни параметрів електронного променя, а також розробка експериментально-статистичних моделей, що дозволять автоматично в режимі реального часу формувати базу даних за покращеними властивостями поверхневих шарів оптичних елементів після їх попередньої електронно-променевої обробки. Матеріали і методи: Для дослідження впливу параметрів електронного променя на властивості поверхневих шарів оптичних елементів було використано пластини з оптичного скла і кераміки. Визначення властивостей поверхневих шарів оптичних елементів до і після електронно-променевої обробки проводилося за відомими методами фізико-хімічного аналізу. Результати: При дії електронного променя на поверхню оптичного елемента відбувається її помітне очищення від різних домішок, усуваються різні мікродефекти, що залишаються на ній після стандартних методів обробки, а також суттєво підвищується її гладкість, тобто зменшується висота залишкових мікронерівностей на цій поверхні. Також було встановлено, що при обробці електронним променем елементів з оптичного скла їх поверхневі шари змінюють свою структуру, яка стає близькою до кварцу. Показано, що поверхні елементів, попередньо оброблені електронним променем, здатні витримувати критичні значення зовнішніх теплових потоків у 1,3...1,5 разу більші, ніж до обробки. Встановлено, що при дії електронного променя на поверхню елементів з оптичних керамік відбувається значне збільшення мікротвердості їх поверхні у 1,3…1,7 разу та утворення зміцнених шарів товщиною 70…230 мкм. Висновки: За результатами проведеного досліджено було розроблено експериментально-статистичні моделі визначення впливу параметрів електронного променя на основні властивості поверхневих шарів оптичних елементів і їх стійкість до теплових дій. Це дає можливість автоматично в режимі реального часу формувати керовану базу даних з покращених властивостей, що впливають на техніко-експлуатаційні характеристики оптичних елементів і приладів на їх основі.
Завантаження
Посилання
Тепловые процессы при электронной обработке оптических материалов и эксплуатации изделий на их основе: монография / В.А. Ващенко, Д.И. Котельников, Ю.Г. Лега и др. — К.: Наукова думка, 2006. — 368 c.
Оптимизация электронной обработки изделий инфракрасной техники / В.А. Ващенко, О.В. Кириченко, Д.И. Котельников и др. // Электронная обработка материалов. — 2004. — № 6. — С. 44—48.
Основи електронної мікрообробки виробів з оптичних матеріалів: монографія / В.А. Ващенко, І.В. Яценко, Ю.Г. Лега, О.В. Кириченко. — К.: Наукова думка, 2011. — 560 c.
Спеціальні методи обробки оптичного скла. Технологія, техніка, економіка / М.П. Бочок, М.П. Бутко, В.А. Ващенко та ін.; за ред. Д.І. Котельніков. — Чернігів: ЧДТУ, 2002. — 152 с.
Bessmertnyi, V.S. Plasma treatment of glasses (A review) / V.S. Bessmertnyi // Glass and Ceramics. — 2001. — Vol. 58, Issue 3–4. — PP. 121—124.
Лазерное и электроэрозионное упрочнение материалов / В.С. Коваленко, А.Д. Верхотуров, Л.Ф. Головко, И.А. Подчерняева; Отв. ред. П.Н. Родин, АН СССР, Дальневост. науч. центр, Ин-т химии. — М.: Наука, 1986. — 276 с.
Лазерні технології та комп’ютерне моделювання: монографія / за ред. Л.Ф. Головка, С.О. Лук’яненка. — К.: Вістка, 2009. — 296 с.
Bauer, E. Surface microscopy with low energy electrons / E. Bauer. — New York: Springer, 2014. — 496 p.
Engel, L. An atlas of metal damage: surface examination by scanning electron microscope / L. Engel, H. Klingele. — 2nd Ed. — Herne: Flender Service, 2001. — 271 p.
Meyer, E. Atomic force microscopy / E. Meyer // Progress in Surface Science. — 1992. — Vol. 41, Issue 1. — PP. 3—49.
Influence of parameters by electronic ray on properties of superficial layers of optical elements of exact instrument-making / I. Yatsenko, V. Antoniuk, M. Bondarenko, V. Vashchenko // Proceedings of Scientific-Technical Conference “Innovations in Engineering”, 10-11 September 2015, Burgas, Bulgaria. — Sofia: Scientific-Technical Union of Mechanical Engineering, 2015. — PP. 64—66.
Тарасов, В.В. Инфракрасные системы «смотрящего типа»: монография / В.В. Тарасов, Ю.Г. Якушенков. — М.: ЛОГОС, 2004. — 443 с.
Anderberg, B. Laser weapons: The dawn of a new military age / B. Anderberg, M.L. Wolbarsht. — New York: Plenum Press, 1992. — 244 p.
##submission.downloads##
Опубліковано
Як цитувати
Номер
Розділ
Ліцензія
Редакція збірника «Праці Одеського політехнічного університету» практикує політику відкритого доступу до опублікованого змісту, підтримуючи принципи вільного поширення наукової інформації та глобального обміну знаннями задля загального суспільного прогресу. Контент розповсюджуються відповідно до ліцензії Creative Commons Attribution Licence.
